本文標題："礦物的折射率可用顯微鏡測量-顆粒直徑測量"

礦物的折射率可用顯微鏡測量-顆粒直徑測量
礦物研究

    在兩面拋光薄片或超微薄片對礦物作下述光學測定的范圍并不是作為一
種建議而提出來的。我們采用其它補充技術的經驗表明，這只是一種較快速
和可靠的方法。
    在作兩面拋光薄片觀察時，我們根據下列光學性質對礦物作初步鑒定:

①外貌，包括顏色、習性、多色性、解理、雙晶，以及其它形貌方面的參數

②與石英、長石或其易鑒別的黑色礦物，如云母、角閃石、輝石和其它副礦
物進行比較而估定的折射率和重折射率;

③我們偶爾也在錐步下對礦物的延性符號和光性符號作檢查。因我們實驗室
還備有一臺干涉顯微鏡，可在該鏡上通過與石英的N?；蛘辰Y樹膠折射率的
比較來推定礦物的折射率，進而對礦物作初步鑒定。如果經過上述的快速研
究還不能對礦物作出鑒定，那就要在薄片上把這個礦物的位置用色筆作出標
記，并進行顯微照相，以便作下一步的電子探針分析。目前我們還不能對薄
片中的礦物作就地X射線衍射分析，只好轉向對經過顯微鏡檢測的該礦物壓
碎顆粒進行研究，從而可以避免從薄片中揭取細小礦物的困難。

    我們認為，最好同時對兩面拋光薄片和礦物的松散自由顆粒進行研究，
這樣可以相互取長補短，以便從很小一點巖石樣品上獲得盡可能多的和準確
可靠的科學數據。
 

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